集成电路可测性设计中级班收费标准公示
《集成电路可测性设计》课程是工业和信息化部教育与考试中心组织开展的“工业和信息化职业技能提升工程”培训项目，旨在培养集成电路可测性设计（DFT）中级应用型人才，提升一线企业工作人员的理论和动手能力。
【面向对象】集成电路设计、制造、测试相关企业的专业人员能力提升、以及企业刚接收的应届研究生培训需求。
【主办单位】12BET培训中心，高精尖创新研究院
【授课方式】线上直播授课（安博O课平台）
【培训费用】原价4000元，10人以上团体或在校生八折优惠，员工单独招生。本校贫困生免学费；其中证书工本费100元。
【培训时间】2022年9月1日—9月5日
【结业证书】由工业和信息化部教育与考试中心颁发《工业和信息化职业能力证书》,学员信息纳入“工业和信息化技术技能人才库”，可在官网（www.miiteec.org.cn）查询。
【课程内容和安排】共计24学时
上课时间 |
课程名称 |
涵盖的知识点 |
课时 |
9月1日19:30-21:00 |
集成电路测试技术概述 |
测试技术在芯片中的作用，测试技术的分类，自动测试设备ATE，测试技术面临的挑战和未来。 |
2 |
9月2日19:00-22:10 |
数字集成电路测试方法 |
集成电路测试意义及分类，数字逻辑电路与故障模型，组合逻辑电路测试，时序逻辑电路测试，可测性设计方法。 |
4 |
9月3日14:00-17:10 |
逻辑电路可测性设计方法 |
集成电路设计流程，逻辑电路的分类，Scan扫描电路技术，ATPG自动测试向量产生技术。 |
4 |
9月3日19:00-22:10 |
逻辑电路可测性设计方法 |
ATPG自动测试向量产生压缩技术，LBIST逻辑自测试技术，ATPG自动测试向量产生IP Core，ATPG自动测试向量产生和大规模集成电路先进逻辑测试方法。 |
4 |
9月4日14:00-17:10 |
Memory存储器可测性设计方法 |
Memory故障模型，Memory测试算法，Memory测试流程，Memory 自我修复，Memory内建自测试技术MBIST。 |
4 |
9月4日19:00-21:15 |
Boundary Scan 边界扫描电路技术与方法 |
IEEE1149.1边界扫描基础，IEEE 1149.1边界扫描应用， IEEE 1149.6边界扫描应用，IEEE 1687及应用。 |
3 |
9月5日19:00-19:45 |
Analog and Mixed Signal Test 模拟及混合信号电路测试 |
模拟电路故障模拟，模拟电路故障模拟流程，DDR PHY测试实例。 |
1 |
9月5日19:55-21:25 |
Diagnosis & Yield improvement ATE测试失效分析和良率改善 |
芯片测试结果log分析，Diagnosis 失效诊断分析，Yield improvement 良率改善与分析。 |
2 |
9月9日 19:00-21:00 |
考试 |
现对以上收费标准进行公示，公示时间：2022年8月26日-9月1日。
如有异议，公示期间请以实名反映。
联系人：王老师
联系电话：010-88803081
邮箱：pxzx@ncut.edu.cn
12BET培训中心
2022年8月26日
